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穩態氙燈太陽光(guāng)模擬器
氙燈穩態太陽光(guāng)模擬器
氙燈穩態太陽光(guāng)模擬器

更新時間(jiān)
:2025-11-07
訪問量
:1874
服(fú)務熱(rè)線15062303574
產品分類
氙燈穩態I-V測試儀(電池)設備使⽤氙燈作為穩態光(guāng)源,可⽤於晶硅 、鈣鈦礦與疊層電池⽚及其(qí)相應的(de)組件的(de)IV測試。設備主要配置有光(guāng)源控制系統 、電源控制系統、測試系統、恆溫系統 、紅外測溫探頭 、參考電池 、計算機 、顯示器等 。 設備可以實現標配I-V 、V-I掃描⽅式 ,具(jù)備MPPT(最⼤功(gōng)率點(diǎn)追蹤) 、I-t(定(dìng)電壓)等多種(zhǒng)測 試技術(shù) 。可獲取(qǔ)I-V曲線 ,P-V曲線,輻照度曲線 ,短路電流,開路電壓,峰值功(gōng)率,峰值功(gōng)率點(diǎn)電壓、 電流,定(dìng)電壓點(diǎn)電流 ,填充因⼦,轉換效率,串聯電阻(zǔ),並聯電阻(zǔ)等測試參數。
氙燈穩態I-V測試儀(電池)主要產品參數
| 適(shì)配標準(zhǔn) Standard | IEC60904-9:2020 | IEC60904-9:2020 |
| 光(guāng)源類型(xíng) Light type | 氙燈穩態光(guāng)源 | Xenon Lamp |
| 冷卻方式 Cooling | 定(dìng)制風冷 | Forced air cooling |
| 光(guāng)源壽(shòu)命(mìng) Light source lifetime | >1000h | >1000h |
| 光(guāng)譜範圍 Spectrum wavelength | 300-1200nm | 300-1200nm |
| 光(guāng)源等級 Classfication of light source | 光(guāng)譜匹配度 0.875-1.125 A+ 輻照度不均勻(yún)度 ≤2% A 輻照度不穩定(dìng)度 ≤1% A+ | Spectral match is 0.875-1.125, class A+ Irradiance non-uniformity is ≤2% , class A Irradiance instability is ≤1%, class A+ |
| 輻照度範圍 Irradiance intensity | 200W/㎡~1200W/㎡ | 200W/㎡~1200W/㎡ |
| 測試面積 Illumination area | 200*200mm 240*240mm 300*300mm 320*320mm 可定(dìng)制其(qí)他尺(chǐ)寸 | 200*200mm 240*240mm 300*300mm 320*320mm Other size can be customized |
| 測試模式 Test mode | 穩態測試模式可自由設定(dìng)由1s到連續照光(guāng) | Under steady-state mode , it can be set freely from 1s to continuous illumination. Besides |
| 多通道設計 Multi-channel testing design | 可實現36通道同時測試 ,通道數量可定(dìng)制 | 36 channels can be tested simultaneously, and the number of channels can be customized |
| 測試技術(shù) Testing technology | 標配I-V、V-I掃描方式 ,具(jù)備MPPT(最大功(gōng)率點(diǎn)追蹤)、I-t(定(dìng)電壓)等多種(zhǒng)測試技術(shù),可通過(guò)軟件切(qiè)換,同時集成逐點(diǎn)掃描方式(滿足最短≤0.2s步進的(de)掃描方式) | It equipped with I-V , V-I scanning, MPPT (maximum power point tracking), I-t (constant voltage) and other test technologies , all these technologies can be switched by software. It also equipped point-by-point scanning ( meet the shortest scanning in step of ≤0.2s |
| 測試電池 Measurable cell type | 多晶 、單晶 、Topcon 、BC、異(yì)質(zhì)結、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦 、鈣鈦礦疊層等 | Poly-crystalline , Mono-crystalline, TopCon, HJT, BC,CIGS, GaAs , CdTe and Perovskite |
| 可增配項 Optional service | 集成溫控系統 ,實現溫度系數測試 集成EL測試系統,實現同工位(wèi)IV/EL測試 可定(dìng)制0BB測試工裝 、鈣鈦礦適(shì)配工裝 集成IR紅外熱(rè)像儀,實現熱(rè)斑測試 手套(tào)箱(米開羅(luó)那) | Temperature Chamber can be integrated to achieve measurement of temperature coefficient EL testing system can achieve IV and EL testing at a same production section Jigs for 0BB cells and perovskite can be customized. Integrated with IR infrared thermal imager to realize heat spot testing Glove box(MIKROUNA) |
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